半导体分立器件老化试验设备

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	桥堆全动态老化系统	桥堆全动态老化系统适应对各种封装的整流二极管、桥式整流器进行全动态老化试验。
	二极管全动态老化系统	二极管全动态老化系统适应对各种封装的整流二极管、桥式整流器进行全动态老化试验。
	高温反偏老化系统	高温反偏老化系统用于二极管、三极管、场效应管、MOS管和可控硅等器件进行高温反偏（HTRB、HTIR）试验。
	大功率晶体管老化系统	大功率晶体管老化系统适用于对F型、TO-220、TO-3P、G型等封装的大功率三极管、MOS管等晶体管进行功率试验。
	多功能老化系统	多功能老化系统各半导体器件（包括高频小功率器件等）的稳态寿命、筛选试验和间歇寿命试验（OP-LIFE、IFOL）

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