微电子电路老化试验设备

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	微电子电路老化试验设备	微电子电路老化试验设备DSP集成电路高温动态老化系统适应于DSP、FPGA、CPLD等各类超大规模集成电路进行高温动态老化和测试。
	三端集成稳压器老化系统	三端集成稳压器老化系统对各种固定正/负电压输出型、可调正/负电压输出型集成稳压器进行高温老化或常温额定功率老化试验。
	电源模块高温老化系统	电源模块高温老化系统适用于对各种单路或多路输出DC/DC、DC /AC电源功率模块进行高温功率老化。
	DSP集成电路高温动态老化系统	DSP集成电路高温动态老化系统适应于DSP、FPGA、CPLD等各类超大规模集成电路进行高温动态老化和测试。
	混合电路高温老化系统	混合电路高温老化系统适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微电子电路进行高温动态老化试验。
	集成电路高温动态老化系统	集成电路高温动态老化系统适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微电子电路进行高温动态老化试验。

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