电子可靠性试验设备

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微电子电路老化试验设备半导体分立器件老化试验设备

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	集成电路高温动态老化系统	集成电路高温动态老化系统适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微电子电路进行高温动态老化试验。
	混合电路高温老化系统	混合电路高温老化系统适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微电子电路进行高温动态老化试验。
	DSP集成电路高温动态老化系统	DSP集成电路高温动态老化系统适应于DSP、FPGA、CPLD等各类超大规模集成电路进行高温动态老化和测试。
	电源模块高温老化系统	电源模块高温老化系统适用于对各种单路或多路输出DC/DC、DC /AC电源功率模块进行高温功率老化。
	三端集成稳压器老化系统	三端集成稳压器老化系统对各种固定正/负电压输出型、可调正/负电压输出型集成稳压器进行高温老化或常温额定功率老化试验。
	微电子电路老化试验设备	微电子电路老化试验设备DSP集成电路高温动态老化系统适应于DSP、FPGA、CPLD等各类超大规模集成电路进行高温动态老化和测试。
	多功能老化系统	多功能老化系统各半导体器件（包括高频小功率器件等）的稳态寿命、筛选试验和间歇寿命试验（OP-LIFE、IFOL）
	大功率晶体管老化系统	大功率晶体管老化系统适用于对F型、TO-220、TO-3P、G型等封装的大功率三极管、MOS管等晶体管进行功率试验。
	高温反偏老化系统	高温反偏老化系统用于二极管、三极管、场效应管、MOS管和可控硅等器件进行高温反偏（HTRB、HTIR）试验。
	二极管全动态老化系统	二极管全动态老化系统适应对各种封装的整流二极管、桥式整流器进行全动态老化试验。
	桥堆全动态老化系统	桥堆全动态老化系统适应对各种封装的整流二极管、桥式整流器进行全动态老化试验。

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